6.3.4.5.2 “小条件原则”评定
以 包 容 平板实际工作面且距离为小的两平行平面间的距离为平板工作面平面度。该平面度可按对角线评定的测量结果进行“基面转换”求得。经基面转换后，平板工作
面上高点数值与低点数值之差作为测量结果。出 现 争 议时，按 “小条件原则”评定的测量结果作为平面度仲裁的终评定结果。
7) 符 合 “小条件原则”平面度的判别准则
当 进 行 “基面转换”，出现下述情况之一，就不再转换。这时高点与低点的差值就是符合小条件原则的平面度。
a) 三 角 形准则— 一个低 (高)点的投影位于由三个等值高 (低)点所组成的三角形内，如图3所示。
b) 交 叉 准则— 两个等值低 (高)点的投影位于两个等值高 (低)点连线的两侧，如图4所示。
。) 直 线 准则— 一个低 (高)点的投影位于两个等值高 (低)点的连线上，如图5所示。
2) “ 基 面转换”的步骤与方法
a) 将 对 角线评定的结果标在示意图 A.2中。
b) 旋 转 原始理想平面位置，改变各测量点的偏差值，使其符合判别准则之一，如果旋转一次不行，可进行多次，一般方法是:
① 选 择 有利于减小平面度数值的任一行、列或斜线 (不在行和列方向的任意两点连线)为转轴，如有可能应同时选定先后两次旋转的转轴。
②决 定 高 点和低点的旋转量QD，在不出现大于原有高点值或小于原有低点值的情况下，尽量减小平面度数值。如有可能应同时先后两次旋转时高点和低点的旋转量，并规定理想平面旋转时，使某点数值增加，则平面在该点的旋转量Q。为正值，反之为负值。测量 点 数 量较少时，可直接决定高点和低点的旋转量Q。及各行 (列或斜线)的旋转量Q;
测 量 点 数量较多且旋转轴位于斜线时，旋转轴两侧的高点和低点的旋转量按式
(10), (11)计算。
(l0) (1l)
D D
口DI=
口。:=
D,+D2
D,+D2
式中: 口DI— 平面在旋转轴一侧高(低)点处的旋转量，NM;
QD2 — 平 面在 旋 转 轴一侧低 (高)点处的旋转量，tm;
m— 旋 转 轴 两 侧 高点值和低点值之差的绝对值，[AM;
Irc 117- 2005
D,-
Dz-
③ 计 算 各行
意图中。
高(低)点至旋转轴的间隔数;
低(高)点至旋转轴的间隔数。
(列或斜线)上各点的旋转量Q‘或Qj，并标记在示意图一侧或另一示平面绕一根轴旋转时，各点的旋转量Q‘按(12)式计算。
Q =
序号为i的行(列或斜线)
(12)
刹
式中: Ql-
QD -
上各点的旋转量，[m;
高(低)点处的旋转量，fm;
D— 高 (低 )点 所在行 (列或斜线)至旋转轴的间隔数;
i— 各 行 (列 或 斜 线 )的序号 (以转轴为0)0
平 面 分 别绕两根轴旋转时，只要某行 (列或斜线)上有两点旋转量已知 (若已求得相邻两点差值后只需有一点已知)就可用比例内插的方法或按式(13)计算该行(列或斜线)上其他各点的旋转量:
亿=Qa+(J一a)Q。一Qa
(13)
式中:
Q. -
n 一
Q;— 某行(列或斜线)上第j点的旋转量，lxm;
Q.— 已知离旋转轴较远点。的旋转量，11m;
Qa— 已知离旋转轴较近点a(包括旋转轴。点在内)的旋转量，tan;
j— 所求点在该行 (列或斜线)上的序号 (以转轴为0);
Qa一某行(列或斜线)上相邻两点旋转量的差值
④ 计 算 理想平面转换后各点的偏差值。各点对原始理想平面的偏差与各点的旋转量口或Q;对应相加就得到各点新的偏差值。
⑤ 对 理 想平面转换后各点新的偏差值进行判别，如果符合判别准则之一时，高点值与低点值之差即是被检平板工作面符合“小条件原则”的平面度。如果不符合判别准则应重复上述步骤，直到符合判别准则为止。
按 “ 小条件原则”评定平面度的示例见附录A.2.2o
6.3.5 局部工作面平面度
6.3.5.1 局部工作面平面度的测量按6.3.4的方法进行。
6.3.5.2 采用平面波动量判定时，将平面波动量检具(见附录B)放在平板工作面上，
沿任意方向移动检具，移动距离为平板对角线的一半且不小于200mm，观察检具上的指示表变化，该变化的大值与小值之差作为平板的平面波动量。
当 平 面 波动量不符合表 3规定时，在平面波动量变化大的位置，按 6.3.5.1的方法进行测量，确定该平板局部工作面平面度。
6.3.5.3 刮制平板采用接触点数判定时，使用规格符合表9要求且准确度级别不低于
被检平板的研磨工具进行涂色对研，涂层厚度以(0.002一0.004) mm为宜。着色对研时，不能对研磨工具施加垂直方向的外力，研磨工具不允许拖出被检平板工作面之外，当对研工具与被检
大理石平板规格尺寸相同时，允许拖出，但不得超出自身面积的1/5。计算刮制平板上任意一个25mm x 25mm正方形内接触点数和任意两个25mm x 25mm正方形内接触点数之差作为测量结果。
6.3.5.4 刮制大理石平板采用接触点面积比率判定时，经着色对研后，被检平板上显示出明显的接触点，然后用一个50mm x 50mm范围内刻有400个2.5mm x 2.5mm小方格的透明薄板(如有机玻璃板)，置于被检平板工作面的任意位置上，依次观察并估算出每个小方格内接触点所占面积的比例(以1/10为单位)。计算上述比例之和，再除以4即为被检平板工作面接触点面积比率的测量结果。
6.4 检定结果的处理
平 板 准 确度级别的判别根据工作面平面度、局部工作面平面度和表面粗糙度的测量结果确定，取其中级别低的作为检定结果。
经 检 定 符合本规程要求的平板，出具检定证书，并注明平板准确度级别;不符合本规程要求的平板出具检定结果通知书，并注明不合格项目。
6.5 检定周期
平 板 根 据使用的具体情况确定检定周期，一般长不超过 1年。
